SGG-1系列相位法光速测量仪适用于科研院所、高等院校物理实验室的光速测量。实验装置内调制被测信号的光强，测量光强调制波传播距离变化所引起的相应相位变化，Z终测定光速，并可以扩展测量有机玻璃、人造水晶、无水乙醇等介质的折射率。

主要参数： 电光晶体：LiNbO3（铌酸锂）；光源是半导体激光器；波长650nm；功率≥2.5mW；导轨1000mm；偏振片φ20mm；1/4波片；晶体偏置电压：0~400V（数码显示），交流内调制信号电压0-40VPP；频率1KHZ（连续可调）

1、观察声光调制的衍射现象（布拉格衍射）；2、测试声光晶体的调制特性；3、调制晶体：钼酸铅晶体；4、调制方式：横向调制；5、调制电压：0-40VPP；6、调制波形：1KHZ正弦波（或其他波形，例如锯齿波）；7、调制带宽：20MHZ；8、电源：220±10%，50HZ；9、激光波长：650~680nm；

仪器介绍 本实验包括激光散斑照相和电子散斑干涉两部分。利用二次曝光散斑图进行物体表面面内位移场的测试，以及由此引伸出来的应变、应力场测试、距离、速度测试、物体内在缺陷和振动分析是散斑效应Z有前途的应用领域。利用电子散斑干涉对物体离面位移进行测量，同时对传统的干版曝光和计算机图形处理两种方法作比较，以加深对散斑干涉的理解。

仪器介绍 利用二次曝光散斑图进行物体表面面内位移场的测试，以及由此引伸出来的应变，距离，速度测试，物体内在缺陷和振动分析是散斑效应Z有前途的应用领域。 实验内容 1、拍摄自由空间散斑和成像散斑图，了解激光散斑现象及其特点 2、掌握二次曝光散斑图的逐点分析和全场分析测物体面内位移的方法